Ellipsometrie an Pentacen und Tetracen, Dünnfilmen und Einkristallen
Untersuchungen zu den optischen und strukturellen Eigenschaften dieser organischen Halbleiter
Die vorliegende Arbeit
stellt erstmalig
ellipsometrische
Untersuchungen der
intrinsischen, optischen
Eigenschaften von
triklinen Pentacen- und
Tetracen-Einkristallen
entlang deren
kristallographischen
Achsen vor. Dabei wurden
die dielektrischen
Funktionen eps1 und eps2
für Pentacen und
Tetracen in Richtung der
kristallographischen
Achsen bestimmt. Die
optischen Spektren
erlauben einen direkten
Vergleich mit
dielektrischen
Funktionen aus
theoretischen
Bandstrukturrechnungen.
Die Arbeit gibt
erstmalig einen
umfassenden Überblick
über die optischen und
strukturellen
Eigenschaften eines der
aussichtsreichsten
Kandidaten für
zukünftige organische
Feldeffekttransistoren.
Mit der Beschreibung des
vollständigen
Dielektrizitätstensors
erschließt die Methode
einneues Feld der
optischen
Charakterisierung
monokliner und trikliner
Kristalle. Zusätzlich zu
den Kristallen wurden
Dünnfilme dieser
Materialien untersucht.
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2008,
188
Seiten,
Maße: 22
cm,
Kartoniert
(TB),
Deutsch VDM Verlag Dr. Müller ISBN-10: 3639012690 |
